美國工程院院士、國際知名統(tǒng)計學家、美國喬治亞理工大學教授吳建福做客清華海外名師講堂
清華新聞網(wǎng)5月31日電 5月29日下午,，美國工程院院士,、國際知名統(tǒng)計學家、美國喬治亞理工學院工業(yè)與系統(tǒng)工程系Coca Cola講座教授吳建福（C.F. Jeff Wu）做客清華大學海外名師講堂第132講,，在理學院報告廳做題為《質(zhì)量改進：從汽車和芯片到納米和生物》（Quality Improvement: From Autos and Chips to Nano and Bio）的主題報告。工業(yè)工程系系主任鄭力主持學術報告。
圖為吳建福做客清華大學海外名師講堂,。
報告中，吳建福從“統(tǒng)計質(zhì)量控制(SQC)之父”休哈特(Shewhart)在統(tǒng)計過程控制方向開創(chuàng)性的工作,，到世界著名的質(zhì)量管理專家戴明(Deming)在質(zhì)量管理領域影響深遠的成就,，指出質(zhì)量改進有著輝煌的歷史。在這些工作和成就中,，統(tǒng)計概念和工具扮演著至關重要的角色,。
吳建福表示，隨著工程應用變得日趨復雜,，我們也同樣需要更復雜的統(tǒng)計工具來解決這些實際問題,。在過去的三十年間，越來越多的試驗設計與分析方法,，特別是穩(wěn)健參數(shù)設計,，被用于質(zhì)量改進的實踐。
吳建福在報告中回顧了穩(wěn)健參數(shù)設計的主要思想,，特別是這些思想的工程來源及統(tǒng)計理論,。然后，他討論了在現(xiàn)有方法基礎上擴展獲得的新的成果,，包括對反饋控制及操作窗口的使用,。吳建福說，為了獲得更有效的解決方案,，我們通常需要結合專業(yè)領域的知識,。吳建福報告中展示了數(shù)據(jù)和知識融合的技術。他說,，在先進制造和高技術應用中,，種類多、數(shù)量小及附加值高的特點將形成新的挑戰(zhàn)和促成可能的研究模式的轉(zhuǎn)變,。結合來自傳統(tǒng)制造（汽車,、芯片）和現(xiàn)代制造（納米、生物）的各種真實案例,，吳建福對一些新的方向和技術發(fā)展趨勢進行了預測,。
演講結束后,，現(xiàn)場學生就關心的質(zhì)量改進的相關問題和吳建福進行了交流。國際處副處長李宇紅為吳建福頒發(fā)了海外名師講堂獎牌,。
供稿：國際處 工業(yè)工程系 編輯：范麗
